昂科技术AI电源模块老化测试方案

昂科致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案。公司在全球首创堆叠式大容量测试系统V9000系列,为Al SOC、高可靠性电源模块、DDR、LPDDR、HBM、UFS、eMMC、NAND、SSD等应用提供最具竞争力的SLT、Burn-In创新测试解决方案。

相关阅读:昂科技术参加2026世界AI服务器电源大会

产品在超高并行测试能力(1680DUT)、超高精度独立温控、测试压力控制精度均处于行业领先地位。

相关阅读:演讲预告|昂科技术受邀演讲服务器电源大会

公司面向Fabless、IDM、OSAT、晶圆厂及终端设备企业等全产业链客户,提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT到烧录全流程设备与解决方案。

服务联络:服务器电源网:全产业链对接指南

Back to the blog title
0 comments
Post comment
Note: commnets needs to be approved before publication

Cart

loading